冷熱沖擊試驗箱 芯片可靠性環(huán)境測試設備

一、 產(chǎn)品概述

冷熱沖擊試驗箱，又名溫度沖擊試驗箱或熱冷沖擊試驗箱，是用于測試材料、元器件（尤其是芯片、集成電路）、電子產(chǎn)品及工業(yè)成品在瞬間承受高溫度和極低溫度連續(xù)變化的環(huán)境下的耐受能力。它通過模擬嚴苛的溫度驟變條件，在短時間內檢驗測試品的物理性能和電氣性能變化，是評估產(chǎn)品可靠性與耐久性的關鍵環(huán)境測試設備。

二、 基本結構

該設備主要由以下幾個核心部分構成：

1. 高溫箱體：內置加熱器，用于產(chǎn)生并維持一個穩(wěn)定的高溫環(huán)境（如+150°C至+200°C）。

2. 低溫箱體：內置壓縮機制冷系統(tǒng)，用于產(chǎn)生并維持一個穩(wěn)定的低溫環(huán)境（如-65°C至-10°C）。

3. 測試區(qū)：放置待測樣品的區(qū)域。

4. 提籃（或風門切換）系統(tǒng)：這是實現(xiàn)沖擊的關鍵機構。測試品放置于提籃中，通過提籃在高溫箱和低溫箱之間的快速移動，或通過切換風門將高溫/低溫氣流快速導向測試區(qū)，實現(xiàn)溫度沖擊。

5. 智能控制系統(tǒng)：核心控制單元，通常采用PLC和彩色觸摸屏，用于設定溫度、時間、循環(huán)次數(shù)及監(jiān)控設備運行狀態(tài)。

冷熱沖擊試驗箱 芯片可靠性環(huán)境測試設備

其核心原理是在最短時間內，使測試品承受高溫和低溫的反復切換。以兩箱式提籃結構為例：測試開始時，提籃位于高溫箱，測試品在高溫下保持一段時間以達到熱飽和；隨后，提籃在數(shù)秒內迅速移動至低溫箱，測試品瞬間暴露在極低溫環(huán)境中并保持一段時間；如此循環(huán)往復，構成嚴酷的溫度沖擊測試。

四、 主要功能及特點

• 高效沖擊：能在極短時間（通常10秒內）完成高低溫轉換，溫度恢復時間快。

• 精準溫控：采用高精度PID控制，確保高溫區(qū)、低溫區(qū)及測試區(qū)的溫度精確、穩(wěn)定。

• 可靠安全：具備完善的安全保護系統(tǒng)，如超溫保護、風機過載保護、漏電保護等，確保設備與操作人員安全。

• 智能便捷：用戶可編程控制，自動運行設定好的測試周期，并記錄測試數(shù)據(jù)與曲線。

• 高強度結構：內外箱體采用優(yōu)質不銹鋼，保溫層加厚，確保長期運行的機械強度和隔熱性能。

五、 技術特點（細化）

• 寬溫范圍：提供從-65°C到+200°C甚至更寬的極限溫度范圍選擇。

• 高轉換速率：提籃移動式轉換時間通常小于10秒，風門切換式也可實現(xiàn)快速的溫度劇變。

• 可視化管理：大尺寸觸摸屏實時顯示運行狀態(tài)、設定曲線、故障信息等。

六、 應用場景與技術參數(shù)

• 應用場景：

• 芯片與封裝測試：檢驗芯片、PCB、BGA封裝等因材料熱膨脹系數(shù)不匹配導致的焊接開裂、性能失效。

• 汽車電子：測試發(fā)動機控制單元、傳感器等在寒冷啟動與運行發(fā)熱交替環(huán)境下的可靠性。

• 航空航天：驗證機載電子設備在高速飛行時經(jīng)歷的高空低溫和地面高溫的沖擊。

技術參數(shù)：

• 溫度范圍：高溫區(qū)：+60°C ~ +200°C；低溫區(qū)：-65°C ~ -10°C

• 測試區(qū)沖擊范圍：-55°C ~ +125°C（或根據(jù)配置）

• 轉換時間：＜10秒（提籃移動式）

• 溫度波動度：≤±0.5°C

• 溫度偏差：≤±2.0°C

• 內箱尺寸：可根據(jù)需求定制（如 50L / 80L / 100L）

七、 應用領域

冷熱沖擊試驗箱廣泛應用于所有對產(chǎn)品質量有嚴苛要求的行業(yè)，主要包括：半導體與集成電路、消費電子、通信設備、汽車制造、航空航天、科研機構及質量檢測中心等，是貫穿產(chǎn)品研發(fā)、質量驗證和生產(chǎn)控制全流程可靠性測試工具。