電子元器件恒溫恒濕老化箱，加速壽命測試

產(chǎn)品詳情
本設(shè)備是專為電子元器件、PCB電路板、IC芯片等產(chǎn)品進行可靠性評估與壽命測試而設(shè)計的高精密恒溫恒濕老化箱。它通過模擬嚴苛的環(huán)境應(yīng)力，在受控的溫濕度條件下對試樣進行長時間連續(xù)測試，是產(chǎn)品質(zhì)量控制、性能提升及新品研發(fā)關(guān)鍵設(shè)備。

核心用途
主要用于各類電子元器件的加速壽命老化試驗、高溫高濕環(huán)境適應(yīng)性測試、長期存儲穩(wěn)定性試驗以及失效分析。通過施加遠高于正常水平的溫濕度應(yīng)力，快速激發(fā)潛在缺陷，提前暴露產(chǎn)品在設(shè)計和工藝上的薄弱環(huán)節(jié)，從而大幅縮短產(chǎn)品研發(fā)周期，提升出廠產(chǎn)品的可靠性和批次一致性。

電子元器件恒溫恒濕老化箱，加速壽命測試

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：-70℃ ~ +150℃（或根據(jù)需求定制）

• 濕度范圍：20% ~ 98% R.H.

• 控制精度：溫度±0.3℃，濕度±2% R.H.

• 升溫/降溫速率：約1~3℃/min（線性或非線性可訂制）

• 內(nèi)箱材質(zhì)：采用SUS304#不銹鋼板，耐腐蝕、易清潔

產(chǎn)品特點
設(shè)備采用彩色觸摸屏人機界面，操作直觀簡便，可存儲上百組試驗程序；配備USB接口，輕松實現(xiàn)數(shù)據(jù)記錄與導(dǎo)出功能。箱門配備大型雙層鋼化玻璃觀察窗，并內(nèi)置節(jié)能LED照明燈，便于在試驗過程中清晰觀察箱內(nèi)樣品狀態(tài)。

風(fēng)道系統(tǒng)
采用設(shè)計的強制式水平送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，搭配大功率離心風(fēng)機及特殊設(shè)計的多面出風(fēng)風(fēng)道。能確保工作室內(nèi)部溫濕度的高度均勻性和穩(wěn)定性，避免任何測試死角，保證每一樣品都處于同一測試環(huán)境，確保數(shù)據(jù)的準確性與可比性。

設(shè)備亮點
內(nèi)置多項智能安全保護系統(tǒng)，包括壓縮機超壓/過載保護、箱內(nèi)超溫保護、風(fēng)機過流保護、缺水保護及漏電保護等，并設(shè)有獨立的極限超溫防止器，為長時間無人值守的可靠性試驗提供安全保障，杜絕意外發(fā)生。

核心優(yōu)勢
相較于通用型設(shè)備，本老化箱在溫濕度控制的精確性、長期運行的穩(wěn)定性和安全性方面表現(xiàn)尤為突出。其高效的測試效率能幫助企業(yè)大幅降低售后維修成本，提升品牌信譽，是構(gòu)建產(chǎn)品高質(zhì)量與高可靠性的強大后盾。