復(fù)層式溫濕度試驗(yàn)箱電子元器件多艙環(huán)境可靠性設(shè)備

更新時(shí)間：2025-09-11

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電子元器件作為各類(lèi)電子設(shè)備的核心，其在不同溫濕度環(huán)境下的可靠性直接決定設(shè)備整體性能。復(fù)層式溫濕度試驗(yàn)箱憑借多艙獨(dú)立控溫濕的優(yōu)勢(shì)，成為電子元器件環(huán)境可靠性測(cè)試的關(guān)鍵設(shè)備，為行業(yè)提供精準(zhǔn)、高效的測(cè)試解決方案。

該設(shè)備的核心價(jià)值體現(xiàn)在多艙獨(dú)立運(yùn)行特性上。每個(gè)測(cè)試艙可設(shè)置不同溫濕度參數(shù)，如部分艙室模擬 - 40℃低溫低濕環(huán)境，部分模擬 85℃高溫高濕環(huán)境，能同時(shí)對(duì)同批次或不同批次電子元器件進(jìn)行多工況測(cè)試，大幅縮短測(cè)試周期。且設(shè)備采用高精度傳感器與智能控溫濕系統(tǒng)，溫度控制精度達(dá) ±0.5℃，濕度控制精度達(dá) ±3% RH，可精準(zhǔn)復(fù)現(xiàn)電子元器件在運(yùn)輸、存儲(chǔ)、使用過(guò)程中可能遭遇的環(huán)境，保障測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

在電子元器件測(cè)試流程中，需嚴(yán)格遵循規(guī)范操作。首先根據(jù)元器件類(lèi)型（如芯片、電容、電阻等）確定測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，例如對(duì)車(chē)用電子元器件，需參照 ISO 16750 標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定 - 40℃~125℃的溫度循環(huán)范圍與 20%~95% RH 的濕度范圍；隨后將元器件固定在專(zhuān)用夾具上，分別放入各測(cè)試艙，確保元器件與艙內(nèi)風(fēng)道充分接觸；啟動(dòng)設(shè)備后，通過(guò)中控系統(tǒng)實(shí)時(shí)監(jiān)控各艙溫濕度曲線(xiàn)、元器件工作狀態(tài)，記錄測(cè)試過(guò)程中的數(shù)據(jù)變化，如元器件在高溫高濕環(huán)境下的絕緣電阻變化、低溫環(huán)境下的導(dǎo)通性能波動(dòng)等。

測(cè)試過(guò)程中常面臨艙內(nèi)氣流不均導(dǎo)致的局部溫濕度偏差問(wèn)題，可通過(guò)定期清潔風(fēng)道濾網(wǎng)、調(diào)整元器件擺放密度解決；若出現(xiàn)濕度爬升緩慢，需檢查加濕桶水位與加熱管工作狀態(tài)，及時(shí)清理加濕桶結(jié)垢。此外，設(shè)備日常維護(hù)不可忽視，每月需校準(zhǔn)溫濕度傳感器，每季度檢查制冷系統(tǒng)制冷劑壓力，每年對(duì)循環(huán)風(fēng)機(jī)軸承進(jìn)行潤(rùn)滑保養(yǎng)，確保設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行，為電子元器件環(huán)境可靠性測(cè)試提供持續(xù)可靠的支持。

復(fù)層式溫濕度試驗(yàn)箱 電子元器件多艙環(huán)境可靠性設(shè)備

復(fù)層式溫濕度試驗(yàn)箱電子元器件多艙環(huán)境可靠性設(shè)備